4.21 射频场感应的传导骚扰抗扰度试验
4.21.1 目的
检验探测器在来自射频发射机产生的电磁骚扰环境下工作的适应性。
4.21.2 试验方法
4.21.2.1 将试样安放在绝缘台上，接通电源，使试样处于正常监视状态，保持15 min。
4.21.2.2 按GB/T 17626.6—1998中的要求，对试样施加表3所示条件的电磁干扰：
检验探测器在来自射频发射机产生的电磁骚扰环境下工作的适应性。
4.21.2 试验方法
4.21.2.1 将试样安放在绝缘台上，接通电源，使试样处于正常监视状态，保持15 min。
4.21.2.2 按GB/T 17626.6—1998中的要求，对试样施加表3所示条件的电磁干扰：
4.21.2.3 干扰期间，观察并记录试样工作状态。
4.21.2.4 干扰结束后，按4.2.3条规定方法测量响应点D值，与该试样在一致性试验中的D值相比较，大者为Dmax，小者为Dmin，计算响应阈值比 S max： S min。
4.21.2.4 干扰结束后，按4.2.3条规定方法测量响应点D值，与该试样在一致性试验中的D值相比较，大者为Dmax，小者为Dmin，计算响应阈值比 S max： S min。
4.21.3 要求
试验期间，试样不应发出报警信号或不可恢复的故障信号；试验后，试样响应阈值比 S max： S min 应不 大于1.3。
4.21.4 试验设备
试验设备应满足GB/T 17626. 6—1998的规定。
试验期间，试样不应发出报警信号或不可恢复的故障信号；试验后，试样响应阈值比 S max： S min 应不 大于1.3。
4.21.4 试验设备
试验设备应满足GB/T 17626. 6—1998的规定。
- 上一节：4.20 射频电磁场辐射抗扰度试验
- 下一节：4.22 静电放电抗扰度试验